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機(jī)載高光譜在機(jī)載高光譜測量的基礎(chǔ)上,具有圖譜合一的優(yōu)勢,可以到葉片一個(gè)點(diǎn)去探測作物不同脅迫癥狀的特征,又可獲取受脅迫作物面狀的光譜信息,點(diǎn)面結(jié)合綜合地反映作物遭受脅迫的程度
更新時(shí)間：2025-12-03
產(chǎn)品型號：
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